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        江蘇35*175塑料電纜拖鏈

        江蘇35*175塑料電纜拖鏈

        簡(jiǎn)要描述:江蘇35*175塑料電纜拖鏈即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等,將沿工作臺面某些直線(xiàn)部位進(jìn)行的測量,理解為任一截面上的z大直線(xiàn)度誤差。而它與形位公差國標中平面度定義規定不符,目前JB2670—82《金屬切削機床檢驗通則》中指出,對平面度誤差的檢查測量均為按包容實(shí)際表面且距離為z小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出,作為評定基準的包容平面,其位置也需要根據z小條件原則來(lái)確定。

        • 產(chǎn)品型號:中意
        • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
        • 更新時(shí)間:2024-08-05
        • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1303
        詳情介紹

        一、江蘇35*175塑料電纜拖鏈平面度誤差測量的要求

           機床工作臺平面度誤差的檢測方法沿用“兩點(diǎn)法”,即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等,將沿工作臺面某些直線(xiàn)部位進(jìn)行的測量,理解為任一截面上的zui大直線(xiàn)度誤差。而它與形位公差國標中平面度定義規定不符,目前JB2670—82《金屬切削機床檢驗通則》中指出,對平面度誤差的檢查測量均為按包容實(shí)際表面且距離為zui小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出,作為評定基準的包容平面,其位置也需要根據zui小條件原則來(lái)確定。所以必須首先全面掌握被測表面的誤差情況,然后才能按一定準則確定評定基準。這樣就決定了測量必須要分兩個(gè)步驟,即先測出實(shí)際表面上若干點(diǎn)相對于任意一個(gè)理想平面(測量基準)的高度,然后通過(guò)基準轉換等方法,才能求出符合定義的誤差值。

        二、用指示器測量平面度誤差時(shí)應如何操作和評定?

           用指示器測量平面度誤差,將被測江蘇35*175塑料電纜拖鏈置于平板上,平板的工作面為測量基準。測量時(shí),通常先調整被測實(shí)際表面上相距zui遠的三點(diǎn)與平板等高(調平),因此由指示器測得的zui大讀數與zui小讀數的代數差就是按三點(diǎn)法評定的平面度誤差值。也可以調整被測實(shí)際表面上一條對角線(xiàn)的兩端點(diǎn)與平板等高,再調整另一條對角線(xiàn)的兩端點(diǎn)與平板等高,于是由指示器測得的zui大讀數與zui小讀數的代數差就是按對角線(xiàn)法評定的誤差值。但這樣調平比較困難,可按一定的布線(xiàn)測量被測表面,同時(shí)記錄讀數。一般可用zui大與zui小讀數的代數差作為誤差值。必要時(shí),可按zui小條件把各測點(diǎn)的讀數進(jìn)行數據的處理,求解誤差值。

        三、用水平儀測量平面度誤差時(shí)應注意什么問(wèn)題?

            用水平儀測量平面度誤差是以自然水平面作為測量基準,測量時(shí)應先把被預測實(shí)際表面調整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上,再把橋板置于被測表面上,按一定的布線(xiàn)逐點(diǎn)測量被測表面,同時(shí)記錄各測點(diǎn)的讀數(格數),再將格數換算成線(xiàn)值。根據測得的讀數(線(xiàn)值),通過(guò)數據處理,即可獲得平面度誤差。
        此方法可用來(lái)測量大平面的平面度。

        四、用自準直儀測量平面度誤差時(shí)應注意什么問(wèn)題?

           用誤差時(shí),是將自準直儀置于被測零件之外的基座上,將反射鏡安放在橋板上,并將橋板置于被測表面上。測量時(shí),應先把自準直儀與被測表面調整到大致平行。然后用測量直線(xiàn)度誤差的方法,按米字布線(xiàn),先測出對角線(xiàn)上各測點(diǎn)的讀數,再測出另一條對角線(xiàn)上各測點(diǎn)和其余截面上各測點(diǎn)的讀數,并將這些讀數換算成線(xiàn)值。根據測得的讀數(線(xiàn)值),利用兩條對角線(xiàn)的交點(diǎn)來(lái)確定符合對角線(xiàn)法則的理想平面,再按此理想平面求解平面度誤差值。必要時(shí)再進(jìn)一步按zui小條件求解誤差值。
        此方法可用不測量大平面的平面度。

        五、用平晶測量平面度誤差時(shí)應如何評定?

            應用光學(xué)平晶測量小平面,測量時(shí)將平晶貼于被測表面上,若被測表面內凹或外凸,就會(huì )出現環(huán)形干涉帶,根據環(huán)形干涉帶數與光波的半波長(cháng)的乘積來(lái)表示平面度誤差。如果干涉條紋不封閉,可使光學(xué)平晶與被測表面間略微傾斜一個(gè)角度,使兩者之間形成一空氣楔。這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值,再乘以半波長(cháng)即得誤差值。不過(guò),按此法評定的誤差實(shí)際上是以直線(xiàn)度誤差代替了平面度誤差。過(guò)去用平晶只能測小平面。近年來(lái)有了平晶干涉儀,應用這種儀器也可以利用平晶干涉法來(lái)測量較大的平面。



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